LAZIN LODAS™ – BI12

应用领域:

电子装配

半导体


Glass Wafer 的出货检查、过程评价 可同时检查表面,背面和内部的缺陷

主要优点

 

                              主要优点
                                    用微分干涉显微镜判断、分析表面和背面的缺陷
                                    检查对象:12inch、8inch、6inch、Glass Wafer
                                    检查项目:表面和背面的颗粒、内部缺陷

在线留言

提交留言

输入您的信息以便获取下载资料

确认
%{tishi_zhanwei}%